射線照相法，利用X射線管產(chǎn)生的X射線或放射性同位素產(chǎn)生的γ射線穿透工件，以膠片作為記錄信息的器材的無(wú)損檢測(cè)方法。該方法是最基本、應(yīng)用最廣泛的的一種射線檢測(cè)方法，也是射線檢測(cè)專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)的主要內(nèi)容。

射線照相法的原理

射線檢測(cè)，本質(zhì)上是利用電磁波或者電磁輻射（X射線和γ射線）的能量。

射線在穿透物體過(guò)程中會(huì)與物質(zhì)發(fā)生相互作用，因吸收和散射使其強(qiáng)度減弱。強(qiáng)度衰減程度取決于物質(zhì)的衰減系數(shù)和射線在物質(zhì)中穿透的厚度。

射線照相法的原理：如果被透照物體（工件）的局部存在缺陷，且構(gòu)成缺陷的物質(zhì)的衰減系數(shù)又不同于試件（例如在焊縫中，氣孔缺陷里面的空氣衰減系數(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于鋼的衰減系數(shù)），該局部區(qū)域的透過(guò)射線強(qiáng)度就會(huì)與周?chē)a(chǎn)生差異。把膠片放在適當(dāng)位置使其在透過(guò)射線的作用下感光，經(jīng)過(guò)暗室處理后得到底片。

射線穿透工件后，由于缺陷部位和完好部位的透射射線強(qiáng)度不同，底片上相應(yīng)部位等會(huì)出現(xiàn)黑度差異。射線檢測(cè)員通過(guò)對(duì)底片的觀察，根據(jù)其黒度的差異，便能識(shí)別缺陷的位置和性質(zhì)。

以上描述的基本原理和醫(yī)院拍X光大同小異。