EddyCus lab 2020A  用于電各向異性測量的單點測量裝置

用于測量導電層、涂層或基材的電各向異性。

非接觸式實時測量

導電薄膜的**測量

隱藏和封裝的導電層的表征

測量數(shù)據(jù)保存和輸出功能

EddyCus lab 2020A（各向異性）專門用于測量電各向異性和某些方向的片狀電阻。 這對于需要主要在某一方向上導電的功能薄膜來說尤其重要，要達到*高的光學透明度。這種新型設備配備了集成的片狀電阻各向異性傳感器。這些傳感器誘導定向電流進入機器和橫移方向。所測得的定向片材電阻被用來**測量電各向異性。這種非接觸式測試方法提供實時的結(jié)果，避免了耗時的破壞性測試。它被用于各行業(yè)的快速測試和系統(tǒng)質(zhì)量保證。

片狀電阻（歐姆/平方米）

機器方向（歐姆/平方米）

橫移方向（歐姆/平方米）

組合板電阻（歐姆/平方米）

各向異性

TD/MD之比

各向異性(%)

典型材料

納米線（Ag, Pt, Au等）。

金屬網(wǎng)和網(wǎng)格（銅、金等）。

碳納米管

納米棒

測量技術(shù)

非接觸式渦流傳感器

基板：箔、玻璃、晶圓等。

基板面積：8英寸/204毫米x204毫米（三面開放）。

*大樣品厚度/傳感器間隙：3 / 5 / 10 / 25毫米（由*厚的樣品定義）。

片材阻力范圍：0.01 – 1,000 歐姆/平方米

在給定的片狀電阻范圍內(nèi)的準確度：1 – 5%

各向異性范圍（TD/MD：0.33 – 3（根據(jù)要求更大）

裝置尺寸(W/H/D)：11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mm

重量：10公斤