EMMC復(fù)位測試\CLK測試\DQS測試\國產(chǎn)芯片替代測試\EMMC 器件測試
代測服務(wù)： EMMC復(fù)位測試\CLK測試\DQS測試\國產(chǎn)芯片替代測試\EMMC 器件測試
1．簡化手機(jī)存儲器的設(shè)計(jì)。eMMC是當(dāng)前最紅的移動設(shè)備本地存儲解決方案，目的在于簡化手機(jī)存儲器的設(shè)計(jì)，由于NAND Flash芯片的不同廠牌，都需要根據(jù)每家公司的產(chǎn)品和技術(shù)特性來重新設(shè)計(jì)，而過去并沒有技術(shù)能夠通用所有廠牌的NAND Flash芯片。

2．更新速度快。每次NAND Flash制程技術(shù)改朝換代，包括70納米演進(jìn)至50納米，再演進(jìn)至40納米或30納米制程技術(shù)，手機(jī)客戶也都要重新設(shè)計(jì)，但半導(dǎo)體產(chǎn)品每1年制程技術(shù)都會推陳出新，存儲器問題也拖累手機(jī)新機(jī)種推出的速度，像eMMC這種把所有存儲器和管理NAND Flash的控制芯片都包在1顆MCP上的概念，隨著不斷地發(fā)展逐漸流行在市場中。

3．加速產(chǎn)品研發(fā)速度。eMMC的設(shè)計(jì)概念，就是為了簡化手機(jī)內(nèi)存儲器的使用，將NAND Flash芯片和控制芯片設(shè)計(jì)成1顆MCP芯片，手機(jī)客戶只需要采購eMMC芯片，放進(jìn)新手機(jī)中，不需處理其它繁復(fù)的NAND Flash兼容性和管理問題，最大優(yōu)點(diǎn)是縮短新產(chǎn)品的上市周期和研發(fā)成本，加速產(chǎn)品的推陳出新速度。

發(fā)展趨勢 eMMC規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)逐漸從eMMC4.3時代發(fā)展到eMMC4.4時代，eMMC4.5已經(jīng)問世，2013年7月29日三星開始量產(chǎn)行業(yè)首款eMMC 5.0存儲產(chǎn)品  。未來其它像更的MCP產(chǎn)品也會把Mobile RAM一起融入，要打贏嵌式內(nèi)存之戰(zhàn)，還要看各家內(nèi)存資源和技術(shù)的齊全度。

但以臺系內(nèi)存模塊廠而言，還在尋找商機(jī)的切入點(diǎn)，除非找到愿意全面支持的內(nèi)存大廠，否則未來可能只能做大陸點(diǎn)山寨手機(jī)市場。

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