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Flash器件替代測試,替代測試主要內(nèi)容,替代測試主要指標

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發(fā)布時間: 2023-12-15 11:26
最后更新: 2023-12-15 11:26
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隨著半導體技術(shù)的迅猛發(fā)展,移動存儲設備快速增長.FLASH芯片作為移動存儲設備中最常用的器件,得到了日趨廣泛的應用,對FLASH芯片的測試要求也越來越高.本文介紹了FLASH存儲器的基本結(jié)構(gòu)和測試原理,特別是詳細分析,研究了可應用于FLASH芯片的測試算法,對算法進行了部分改進與綜合.測試實驗表明,在與傳統(tǒng)的棋盤格測試方法相同的故障覆蓋率時,本方法的測試效率更高。


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