CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試

代測服務：CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
1．簡化手機存儲器的設計。eMMC是當前最紅的移動設備本地存儲解決方案，目的在于簡化手機存儲器的設計，由于NAND Flash芯片的不同廠牌，都需要根據(jù)每家公司的產(chǎn)品和技術特性來重新設計，而過去并沒有技術能夠通用所有廠牌的NAND Flash芯片。

2．更新速度快。每次NAND Flash制程技術改朝換代，包括70納米演進至50納米，再演進至40納米或30納米制程技術，手機客戶也都要重新設計，但半導體產(chǎn)品每1年制程技術都會推陳出新，存儲器問題也拖累手機新機種推出的速度，像eMMC這種把所有存儲器和管理NAND Flash的控制芯片都包在1顆MCP上的概念，隨著不斷地發(fā)展逐漸流行在市場中。

3．加速產(chǎn)品研發(fā)速度。eMMC的設計概念，就是為了簡化手機內(nèi)存儲器的使用，將NAND Flash芯片和控制芯片設計成1顆MCP芯片，手機客戶只需要采購eMMC芯片，放進新手機中，不需處理其它繁復的NAND Flash兼容性和管理問題，最大優(yōu)點是縮短新產(chǎn)品的上市周期和研發(fā)成本，加速產(chǎn)品的推陳出新速度。

發(fā)展趨勢 eMMC規(guī)格的標準逐漸從eMMC4.3時代發(fā)展到eMMC4.4時代，eMMC4.5已經(jīng)問世，2013年7月29日三星開始量產(chǎn)行業(yè)首款eMMC 5.0存儲產(chǎn)品  。未來其它像更的MCP產(chǎn)品也會把Mobile RAM一起融入，要打贏嵌式內(nèi)存之戰(zhàn)，還要看各家內(nèi)存資源和技術的齊全度。

但以臺系內(nèi)存模塊廠而言，還在尋找商機的切入點，除非找到愿意全面支持的內(nèi)存大廠，否則未來可能只能做大陸點山寨手機市場。

公司介紹：CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 
北京淼森波信息技術有限公司主要提供高速電路測試服務和儀器儀表租售業(yè)務。

檢測項目：CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 
高速電路測試服務項目有：① SI信號完整性測試，主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口測試、URAT測試、網(wǎng)口測試、USB2.0/USB3.0測試、MIPI測試、HDMI測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試。② PI電源完整性測試，主要內(nèi)容是電源的電壓值（精度）、電源噪聲/紋波、電壓上下波形、測量緩啟動電路參數(shù)、電源電流和沖擊電流、電源告警信號、冗余電源的均流參數(shù)。③ 接口一致性測試，主要有以太網(wǎng)、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。